NF H50-013-2003 木制平托盘的修理
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【英文标准名称】:Repairofflatwoodenpallets.
【原文标准名称】:木制平托盘的修理
【标准号】:NFH50-013-2003
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2003-10-01
【实施或试行日期】:2003-10-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:规范;木制品;木材;规范(验收);测定;损伤;耐久性;定义;木材防腐;浅;平托盘;检修;特性;材料;托盘;木托盘;运输方法;木基质产品;木料;胶合板
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:A85
【国际标准分类号】:55_180_20
【页数】:21P;A4
【正文语种】:其他
【英文标准名称】:Opticalfibres-Measurementmethodsandtestprocedures-Tensilestrength
【原文标准名称】:光纤.测量方法和试验规程.抗拉强度
【标准号】:BSEN60793-1-31-2002
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2002-06-11
【实施或试行日期】:2002-06-11
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:纤维光学;总规范;玻璃纤维电缆;光波导;规范;电气工程;光学测量;测量技术;测量;电缆;特性;试验设备;试验;规范(验收);数学计算;尺寸;抗拉强度;导电体;抗拉试验
【英文主题词】:Dimensions;Electriccables;Electricconductors;Electricalengineering;Fibreoptics;Genericspecification;Glassfibrecables;Mathematicalcalculations;Measurement;Measuringtechniques;Opticalmeasurement;Opticalwaveguides;Properties;Specification;Specification(approval);Tensilestrength;Tensiletesting;Tensiletests;Testequipment;Testing
【摘要】:ThispartofIEC60793providesvaluesofthetensilestrengthofopticalfibresamples.Thedistributionofthetensilestrengthvaluesofagivenfibrestronglydependsonthesamplelength,loadingvelocityandenvironmentalconditions.Thetestcanbeusedforinspectionwherestatisticaldataonfibrestrengthisrequired.Resultsarereportedbymeansofstatisticalqualitycontroldistribution.Normallythetestiscarriedoutaftertemperatureandhumidityconditioningofthesample.However,insomecases,itmaybesufficienttomeasurethevaluesatambienttemperatureandhumidityconditionsThismethodisapplicabletotypesA1,A2,A3andBopticalfibres.
【中国标准分类号】:M33
【国际标准分类号】:33_180_10
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Semiconductordevices.Time-dependentdielectricbreakdown(TDDB)testforinter-metallayers
【原文标准名称】:半导体装置.依赖时间的金属层间的介质击穿(TDDB)试验
【标准号】:BSEN62374-1-2010
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2010-12-31
【实施或试行日期】:2010-12-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:元部件;定义(术语);介质;电介质击穿;电气工程;电子设备及元件;外壳;失效;大门;热室;层;寿命;半导体器件;测试;测试装置;按时间;电压;电压应力
【英文主题词】:Components;Definitions;Dielectric;Dielectricbreakdown;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Failure;Gates;Heatingchamber;Layers;Life(durability);Semiconductordevices;Testing;Testingdevices;Time-dependent;Voltage;Voltagestress
【摘要】:ThispartofIEC62374describesatestmethod,teststructureandlifetimeestimationmethodofthetime-dependentdielectricbreakdown(TDDB)testforinter-metallayersappliedinsemiconductordevices.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:20P.;A4
【正文语种】:英语
